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絕緣材料電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶(hù)的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果能真實(shí)反映薄膜的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
時(shí)間：2024-06-04
型號(hào)：HDRD-20KV
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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